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>>IEC 68-2-68砂塵試驗(yàn)對(duì)于電子產(chǎn)品的影響及適用范圍
IEC 68-2-68砂塵試驗(yàn)對(duì)于電子產(chǎn)品的影響及適用范圍

時(shí)間:2015/3/30 8:11:21
 
    IEC 68-2-68試驗(yàn)方法L 砂塵試驗(yàn)的目的在于決定懸浮于空氣中的砂塵對(duì)電子電工的影響。依試驗(yàn)?zāi)康牟煌,可分為不具磨損力之細(xì)塵試驗(yàn)、自由落塵試驗(yàn)及吹塵與吹砂試驗(yàn)等三種試驗(yàn)程序。下面我們主要來(lái)了解一下這三種試驗(yàn)的適用范圍。
    一、不具磨損力之細(xì)塵試驗(yàn):適用于評(píng)估試件的密封性。本試驗(yàn)法將試件暴露于不具磨損力之細(xì)塵中,并仿真因試件溫度循環(huán)變化造成內(nèi)、外氣壓差之效應(yīng)。
    二、自由落塵試驗(yàn):適用于模擬有遮蔽之環(huán)境。本試驗(yàn)法將試件暴露于低濃度之砂塵環(huán)境中,此環(huán)境的產(chǎn)生方式,是利用間歇性噴出定量的塵并借由重力作用使塵落于試件上。
    三、吹塵與吹砂試驗(yàn):適用于模擬戶外及載具的使用條件。本試驗(yàn)法是將試件暴露于含定量塵、砂或砂塵混合之紊流或?qū)恿骺諝庵,以評(píng)估試件密封性及砂塵產(chǎn)生之侵蝕效應(yīng)。
    注:本砂塵試驗(yàn)不適用于驗(yàn)證空氣過(guò)濾器的性能;細(xì)塵試驗(yàn)并非模擬自然或誘發(fā)環(huán)境。
 
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